光電器件可靠性老化測(cè)試箱在產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)估中的應(yīng)用

2025年8月14日 125

在光電器件的研發(fā)與生產(chǎn)過程中，光電器件可靠性老化測(cè)試箱通過對(duì)溫度等關(guān)鍵參數(shù)的準(zhǔn)確控制，為評(píng)估器件在長期使用中的穩(wěn)定性提供了重要依據(jù)，進(jìn)而為延長器件使用周期奠定了基礎(chǔ)

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