半導(dǎo)體多工位并行老化測(cè)試Chamber的在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用

2025年8月8日 136

在半導(dǎo)體行業(yè)的快速發(fā)展中需要產(chǎn)品驗(yàn)證的環(huán)節(jié)。如何準(zhǔn)確地評(píng)估半導(dǎo)體產(chǎn)品在各種苛刻條件下的性能與可靠性，成為制約產(chǎn)品上市速度與質(zhì)量的關(guān)鍵因素。半導(dǎo)體多工位并行老化測(cè)試Chamber作為一種創(chuàng)新性的測(cè)試設(shè)備，通過(guò)多任務(wù)處理能力，實(shí)現(xiàn)了對(duì)多批次、多類型產(chǎn)品的同步...

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